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기본정보

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장비명(한글) 전계방사형 주사전자현미경 (FE-SEM)
장비명(영문) Field Emission Scanning Electron Microscope
사업단 및 센터 공동실험실습관
예약가능여부 가능
연구장비분류체계
활용상태 활용
취득방법 구매

세부정보

장비구분 주장비 주장비/주시설
심의여부 심의번호
모델명 CZ/MIRA I LMH 제작사 Tescan
제작국가
제품사양 금속, 재료, 반도체, 섬유 및 고분자 물질 등
광범위 시료의 미세구조 관찰 및 성분 분석
생물과 금속, 재료 등 미세입자(powder)의
표면 미세구조 및 형상 관찰
동,식물 세포의 미세구조 관찰
반도체 등의 박막 두께 측정
사용료
(1h기준, 원)
45,000원 부가세 0원

담당자정보

장비담당자 소속 부서
전화번호 휴대폰번호
이메일
주소 []