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공동장비 검색

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기본정보

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장비명(한글) 저전압 주사전자현미경 (Low voltage SEM)
장비명(영문) Low Voltage Scanning Electron Microscope
사업단 및 센터 공동실험실습관
예약가능여부 가능
연구장비분류체계
활용상태 활용
취득방법 구매

세부정보

장비구분 주장비 주장비/주시설
심의여부 심의번호
모델명 Merlin Compact 제작사 Carl Zeiss
제작국가
제품사양 저전압 전계 방사형 주사 전자현미경(FE-SEM)
은 일반 광학 현미경으로는 관측이 어려운 물
질의 미세영역을 고분해, 고배율로 확대하여
표면구조 및 형태를 확인할 수 있어서 모든
과학 분야의 재료 및 제품에 대한 연구 개발과
품질 관리 향상에 필수적인 기기이다.
고분자, 금속 및 세라믹 시료의 표면 분석
사용료
(1h기준, 원)
60,000원 부가세 0원

담당자정보

장비담당자 소속 부서
전화번호 휴대폰번호
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